Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0214U006244, 0110U006231 , Науково-дослідна робота Назва роботи Комплексна діагностика та вивчення нових функціональних матеріалів на основі анізометричних наночастинок в м'яких анізотропних середовищах для систем запису, обробки та відображення інформації за допомогою методів сингулярної оптики. Назва етапу роботи Керівник роботи Соскін Марат Самуїлович, Дата реєстрації 25-02-2014 Організація виконавець Інститут фізики НАН України Опис етапу Степінь когерентності відрізняється для областей перехідного шару РК та областей незбуреної матриці, та змінюється з прикладанням зовнішнього поля. Отримана якісна інтерпретація зменшення степені когерентності в залежності від співвідношення часу експозицій ПЗС матриці до характерного часу динамічних процесів у РК матриці. При прикладенні до композиту зовнішнього електричного поля збурення рідкого кристалу, що існують навколо кластерів, поширюються в зону незбуреного нематика. Характерною ознакою поля збуреного рідкого кристалу є наявність у ньому інверсних стінок. Рідкокристалічна матриця з збуренням може розглядатися як амплітудна маска. При прикладанні зовнішньої напруги перехід Фредерікса у композиті з холестеричним (квазі нематичним) рідким кристалом має суттєві відмінності в порівнянні з чистим нематиком 5СВ. Навколо кластерів нанотрубок існує шар збуреного рідкого кристалу, прикладання зовнішнього поля не призводить до розвитку цього шару та його поширення у область чистої матриці. Переорієнтація рідкого кристалу відбувається за допомогою двох механізмів, що конкурують між собою: переорієнтація холестерика у гомеотропний стан через проміжний стан fingers-структури та сітчастої структури, що виникає в областях чистої матриці. Перелік ключових слів: Багатошарові вуглецеві нанотрубки, нематічні та холестеричні рідкі кристали, самоорганізація, перколяція, агрегація, сингулярна оптика, оптичні сингулярності, розсіяння світла, степінь часової когерентності. Опис продукції Методи сингулярної і поляризаційної оптики з високою роздільною здатністю для комплексної діагностики та вивчення рідкокристалічних середовищ (РС) з анізометричними наночастинками, зокрема з багатошаровими вуглецевими нанотрубками. Додатковий аналіз степіні когерентності квазімонохроматичного випромінюванння, що проходить крізь комірку з композитом рідкий кристал-нанотрубки та аналіз рідкокристалічної матриці зі збуреннями з точки зору амплітудної маски, що моделює різницю фаз між звичайним та незвичайним променем дозволяє збільшити точність комплексної діагностики РС. Автори роботи Васильєв Василь Ігоревич Поневчинський Владіслав Вікторович Соскін Марат Самуїлович Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити