Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0214U006848, 0110U006079 , Науково-дослідна робота Назва роботи Фундаментальні дослідження структурних, електрофізичних та оптичних властивостей окремих та ансамблів квантових точок в багатошарових нанорозмірних системах на основі МПЕ сполук AIVBIV, їх оксидів та рідкоземельних елементів Назва етапу роботи Керівник роботи Козирев Юрій Миколайович, Кандидат фізико-математичних наук Дата реєстрації 27-02-2014 Організація виконавець Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН України Опис етапу Показано, що зонна діаграма гетеропереходу SiGe-острівець/Si-оточення визначається компонентним складом острівців та присутніми деформаціями. Для аналізу вмісту Ge в нанокластерах запропоновано комплексний підхід, який передбачає аналіз спектрів КРС та дифракції ренгеніських променів. Виявилось, що в спектрах КРС структур з SiGe острівцями присутні смуги, що відповідають Si-Ge та Ge-Ge коливанням в острівцях. За частотами цих смуг для досліджуваних структур було оцінено середні величини компонентного складу острівців та деформацій. Показано, що наноострівці досліджуваних структур являють собою двовісно напружений твердий розчин Si1-xGex. Опис продукції Автори роботи Варавка О.В. Козирев Юрій Миколайович Мельничук Є.Є. Сидороенко І.Г. Скляр В.К. Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити