Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0214U008422, 0110U004656 , Науково-дослідна робота Назва роботи Створення методу та апаратури для рентгено-ультраакустистичної експресної багатопараметричної діагностики наносистем Назва етапу роботи Керівник роботи Оліх Ярослав Михайлович, Дата реєстрації 23-12-2014 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України Опис етапу Створено теоретичну модель рентгено-ультразвукової інтегральної динамічної дифрактометрії (РУІДД) у геометрії дифракції Лауе в товстих кристалах (в умовах аномального проходження бреггівських та дифузних рентгенівських хвиль), яка самоузгоджено враховує вплив дифузного розсіяння на інтегральну інтенсивність дифракції та його залежність від характеристик ультразвукової хвилі. Створена випробувальна лабораторія рентгено-ультразвукової дифрактометрії у складі центру для сертифікації наноматеріалів структур та приладів. Опис продукції Розроблені методики працюють біля К-краю поглинання, де Х-промені є дуже чутливими до великої кількості дефектів, що дозволяє отримати їх кількісні результати. Представлено експериментальний дифрактометр для вимірювання рентгено-акустичного резонансу. Автори роботи Єфанов Олександр Миколайович Гудименко Олександр Йосипович Кривий Сергій Борисович Кучук Андріан Володимирович Максименко Зоя Василівна Проскуренко Наталія Миколаївна Сафрюк Надія Володимирівна Слободян Микола Васильович Стадник Олександр Анатолійович Станчу Григорій Вікторович Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити