Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 0214U008830, 0108U002445 , Науково-дослідна робота Назва роботи Розроблення і створення діагностичного комплексу для тестування мікрохвильових діодів на основі широкозонних напівпровідників. Назва етапу роботи Керівник роботи Конакова Раїса Василівна, Дата реєстрації 07-11-2014 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України Опис етапу Науково-технічний звіт складається зі вступу, чотирьох частин та висновків. В звіті 118 сторінок машинописного тексту, з них 110 сторінок основного тексту, 52 ілюстрації, 2 таблиці та список посилань з 121 найменувань. Об'єктом дослідження проведеної роботи є методики діагностування мікрохвильових діодів на основі широкозонних напівпровідників та теплових опорів оптоелектронних виробів. Метою роботи є розробка діагностичних комплексів для аналізу мікрохвильових діодів Ганна, p-i-n та лавино-пролітних діодів, та розробка діагностичного комплексу для тестування теплового опору потужних світлодіодів. В ході виконання НДР проведено патентний пошук по створенню пристроїв для вимірювання теплових опорів напівпровідникових діодів, у тому числі світлодіодів, на основі якого виконано розробку діагностичного комплексу для вимірювання теплових опорів напівпровідникових діодів і виробів оптоелектроніки. Створено макет діагностичного комплексу для тестування теплових опорів діодів, працюючих на прямій гілці ВАХ з вихідними параметрами: - діапазон напруг: 0 - 10 В; - діапазон струмів: 0 - 10 А; - діапазон тривалості імпульсів: 10-5 - 103 с; - діапазон температур: 100 - 400 К. Апробовано в експерименті макет діагностичного комплексу для тестування теплового опору мікрохвильових діодів, в тому числі світлодіодів. Подано заявку на патент України на корисну модель Ключові слова: діод Ганна, лавино-пролітний діод, p-i-n діод, тепловий опір, сітлодіод, діагностичний комплекс Опис продукції Розроблено макет діагностичного комплексу для тестування теплового опору світлодіодів. Автори роботи В.В. Шинкаренко В.М. Шеремет Р.В Конакова Я.Я. Кудрик Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити
НДДКР ОК
Керівник: Конакова Раїса Василівна. Розроблення і створення діагностичного комплексу для тестування мікрохвильових діодів на основі широкозонних напівпровідників.. (Етап: ). Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України. № 0214U008830
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-03-21