Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0215U000596, 0110U006261 , Науково-дослідна робота Назва роботи Дослідження методами сингулярної оптики оптичних властивостей наноматеріалів на основі рідкокристалічних середовищ з вуглецевими нанотрубками та іншими наночастинками з метою визначення та вивчення механізму їх взаємодії з електромагнітним випромінюванням, в тому числі процесів генерації оптичних вихорів, розробка методів комплексної діагностики і сертифікації наноматеріалів, визначення часових змін їх характеристик. Назва етапу роботи Керівник роботи Соскін Марат Самуїлович, Дата реєстрації 06-03-2015 Організація виконавець Інститут фізики НАН України Опис етапу В рамках даного проекту виконано цикл робіт по дослідженню методами сингулярної оптики оптичних властивостей наноматеріалів на основі рідкокристалічних середовищ з вуглецевими нанотрубками та іншими наночастинками з метою визначення та вивчення механізму їх взаємодії з електромагнітними випромінюванням, в тому числі процесів генерації оптичних вихорів, розробка методів комплексної діагностики і сертифікації наноматеріалів, визначення часових змін їх характеристик. Розроблено комплекс взаємодоповнюючих експериментальних методів для характеризації розроблюваних рідкокристалічних нанокомпозитів, що містять нематичні та холестеричні суміші як матрицю та дисперговані в ній вуглецеві нанотрубки (одно- або багатостінкові) як допанти, з можливим включенням нано- і мікрочастинок інших типів. Методи включають спектрофотометрію (зокрема, визначення оптичного пропускання в залежності від температури), диференціальну скануючу калориметрію, електрофізичні дослідження (діелектрична спектроскопія, кондуктометрія), оптичну мікроскопію, спектроскопію селективного відбивання, інші методи фізико-хімічного аналізу, а також низку методів сингулярної оптики. Для кожного рідкокристалічного наноматеріалу визначаються параметри фазових переходів, дається оцінка гомогенності та гетероструктурованості утворюваних фазових станів, оптична прозорість, електропровідність та діелектрична проникність в залежності від прикладеного електричного поля (для електрооптичних комірок, конденсаторів керованої ємності та інших пристроїв мікро- та оптоелектроніки), а також стабільність цих характеристик в часі. Останнє є особливо важливим, оскільки основною проблемою при створенні таких наноматеріалів є схильність нанотрубок до агрегації - оптимальний склад рідкокристалічного матеріалу повинен забезпечувати поєднання взаємно суперечливих вимог (прозорість, чутливість до електричного поля тощо в поєднанні з високою часовою стабільністю). Розроблювані методи характеризації є відносно простими і не потребують спеціального складного обладнання; визначення характеристик здійснюється з використанням стандартних приладів, а новизна полягає в розроблених оригінальних методиках приготування зразків та проведення вимірювань, що забезпечує високу надійність результатів. Опис продукції Методи сингулярної і поляризаційної оптики з високою роздільною здатністю для комплексної діагностики та вивчення рідкокристалічних середовищ (РС) з анізометричними наночастинками, зокрема з багатошаровими вуглецевими нанотрубками. Додатковий аналіз степіні когерентності квазімонохроматичного випромінюванння, що проходить крізь комірку з композитом рідкий кристал-нанотрубки та аналіз рідкокристалічної матриці зі збуреннями з точки зору амплітудної маски, що моделює різницю фаз між звичайним та незвичайним променем дозволяє збільшити точність комплексної діагностики РС. Автори роботи Поневчинський Владіслав Вікторович Соскін Марат Самуїлович Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити