Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0215U001119, 0112U002494 , Науково-дослідна робота Назва роботи Дослідження анізотропних та гіротропних кристалів у напіввідкритих хвилеводних структурах Назва етапу роботи Керівник роботи Звягінцев Анатолій Олександрович, Погарський Сергій Олександрович, Дата реєстрації 20-01-2015 Організація виконавець Харківський національний університет імені В.Н. Каразіна Опис етапу Об'єкт дослiдження - хвилеводнi поширення та розгалуження з гіротропним та анiзотропним заповненням. Мета роботи: - побудова електродинамічної моделі розрахунку електромагнітних коливань у напіввідкритих хвилеводних розгалуженнях що заповнені анізотропним та гiротропним середовищем; - розробка алгоритму та прикладних програм для чисельного моделювання процесів у гiротропних середовищах; - розробка методики вимірювання діелектричної та магнітної проникності магнітодіелектриків та феритів без їх руйнування; - розробка програмного забезпечення для обробки інформації, автоматизації та управління вимірювальним комплексом. Методи дослідження: - теоретичний - електродинамiчний розрахунок спектральних характеристик структур, що дослiджуються; - експериментальний - резонансний метод дослідження діелектриків та феритів на надвисоких частотах. У роботі досліджена фізика резонансних явищ у хвилеводних розгалуженнях із гіротропною речовиною. Побудована електродинамічна модель розрахунку спектра електромагнітних коливань у напiввiдкритих хвилеводних розгалуженнях, якi заповненi гіротропним середовищем. Розроблено методику вимірювання діелектричної та магнітної проникності магнітодіелектриків та феритів без їх руйнування. Розроблено чисельний алгоритм, прикладні програми для комп'ютерного аналізу резонансних та енергетичних характеристик електромагнітних коливань. Опис продукції Методики, що розроблено, дозволяють визначати у мікрохвильову діапазоні: - діелектричну проникність ізотропних діелектриків та компоненти тензору одновісних кристалів з тетрагональним і гексагональним типом симетрії з похибкою не гірше 0,5-1%; - тангенси кутів електричних втрат уздовж головних напрямів у кристалах з похибкою не гірше 8%; - напрями осей еліпсоїду діелектричної проникності з похибкою не гірше ; Чутливість методики визначення компонентів тензору діелектричної проникності анізотропних кристалів до зміни діелектричної проникності (залежно від діапазону частот та поперечного перетину хвилеводного розгалуження) лежить у межах 400-1000 Мгц. Автори роботи Стрижаченко О. Ужик В. Шаулов Є. Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити