Керівник: Стрельчук Віктор Васильович. Розробка і впровадження новітніх методів поверхнево підсиленої КРС і наномеханічної спектроскопії для фізичної діагностики біоімплантів та інших біомедичних застосувань.. (Етап: ). Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України. № 0215U001147

Оновлено: 2026-10-27