Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0219U000635, 0117U004461 , Науково-дослідна робота Назва роботи Вплив іонізуючих випромінювань на сучасні мікро- та наноматеріали сенсорної техніки Назва етапу роботи Керівник роботи Большакова Інеса Антонівна, Доктор технічних наук Дата реєстрації 13-02-2019 Організація виконавець Національний університет "Львівська політехніка" Опис етапу Розроблена методика опромінення нейтронами напівпровідникових сполук III-V в дослідницьких ядерних реакторах. Опромінені за даною методикою гетероструктури та мікрокристали сполук III-V використані для створення комплексної методики радіаційної стійкості. Основними складовими такої комплексної методики є металургійне легування спеціальними домішковими комплексами в процесі вирощування структур та опромінення цих матеріалів відомим нейтронним спектром, який залежить від типу домішкових комплексів. Для дослідження впливу опромінення сенсорних матеріалів прискореними електронами була розроблена та виготовлена спеціальна вакуумна та радіаційно сумісна оснастка. Опромінення прискореними електронами проводилось на мікротроні М-30 та генераторі Ван-де-Граафа ELIAS KS/3000. Визначені залежності основних параметрів сенсорів Хола на основі опромінених електронами матеріалів від флюенсу і енергії електронів. Вказані залежності необхідні для моделювання і попередньої оцінки результатів взаємодії гамма-квантів високої енергії (сумісних з сучасними термоядерними експериментами) з напівпровідниковими матеріалами. Опис продукції Опромінення нейтронами проводилось в дослідницьких ядерних реакторах LVR-15 i IBR-M, оскільки нейтронні спектри цих реакторів сумісні з сучасними термоядерними експериментами. В результаті були отримані графічні та аналітичні залежності основних електрофізично-транспортних параметрів сполук III-V від флюенсів нейтронів. Отримані результати використані для створення комплексної методики виготовлення радіаційно стійких матеріалів. Вказана методика поєднує опромінення нейтронами та металургійне легування домішковими комплексами. Особливу роль в цій методиці відіграють спеціальні відпали матеріалів. Для вивчення опромінення матеріалів електронами була виготовлена спеціальна радіаційно та вакуумно сумісна оснастка. Результатом опромінення швидкими нейтронами є графічні та аналітичні залежності параметрів напівпровідникових матеріалів III-V від флюенсів електронів. Показана можливість використання отриманих результатів для моделювання взаємодії гамма-випрмінювання з напівпровідниковими матеріалами. Автори роботи Большакова Інеса Антонівна Васильєв Олександр Васильович Гумен Степанія Степанівна Ковальова Неллі Володимирівна Когут Інна Володимирівна Кость Ярослав Ярославович Михащук Юрій Сергійович Мороз Анатолій Петрович Палиняк Ігор Володимирович Шуригін Федір Михайлович Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити