Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0220U100040, 0117U001154 , Науково-дослідна робота Назва роботи Розробка новітніх методів і систем діагностики структурно-чутливих характеристик оптично-анізотропних напівпровідникових і біологічних шарів Назва етапу роботи Керівник роботи Махній Віктор Петрович, Доктор фізико-математичних наук Дата реєстрації 08-01-2020 Організація виконавець Чернівецький національний університет імені Юрія Федьковича Опис етапу  Запропонована низка оригінальних способів легування та обробки підкладинок широкозонних напівпровідників, які дозволили отримати у них ефективну крайову люмінесценцію (у тому числі й екситонну) з високими температурною та радіаційною стійкостями На їх основі було створено лабораторні зразки сонячних елементів та УФ фотодетекторів, які за деякими параметрами перевищують існуючі аналоги, а також запропоновано декілька нових методів знаходження параметрів напівпровідникових матеріалів. Розроблення Мюллер-матричного алгоритму описання параметрів фазової та амплітудної анізотропії багатошарових полікристалічних структур у вигляді суперпозиції парціальних операторів лінійного та циркулярного двопроменезаломлення і дихроїзму. Теоретичне обґрунтування та експериментальне виявлення групи Мюллер-матричних зображень фазово-неоднорідних шарів, які визначають поляризаційні прояви розподілів орієнтацій оптичних осей та двопроменезаломлення парціальних кристалів та визначення на цій основі діагностичного взаємозв’язку між змінами розподілу (формуванням дефектів) параметрів фазової анізотропії та статистичною і масштабно-самоподібною структурою координатних розподілів елементів матриці Мюллера. Розроблені нові методи Мюллер – матричного картографування розподілів лінійного двопроменезаломлення із статистичним, кореляційним і фрактальним аналізом одержаних масивів значень орієнтаційних, орієнтаційно-фазових і фазових Мюллер-матричних зображень. Опис продукції Використано методи модуляційної спектроскопії для дослідження та аналізу спектрів люмінесценції у широкому діапазонів довжин хвиль; встановлено взаємозв’язки між морфологією і структурою поруватих шарів та їх люмінесцентними параметрами і характеристиками; застосовано диференціальний Мюллер-матричний формалізм для диференціації дефектів повністю поляризованої та повністю деполяризованої складових полікристалічної структури фазово-неодноріднихьшарів неорганічного та біологічного походження; визначено взаємозв’язки між розподілами напрямів оптичних осей і двопроменезаломлення парціальних кристалів фазово-неоднорідного шару з набором його “орієнтаційних”, “орієнтаційно-фазових” і “фазових” Мюллер-матричних зображень; здійснено статистичний аналіз Мюллер-матричних зображень повністю поляризованої та повністю деполяризованої складових полікристалічної структури фазово-неодноріднихьшарів неорганічного та біологічного походження та визначено критерії (середнє, дисперсія, асиметрія та ексцес) детектування детектування їх дефектів; здійснено фрактальний аналіз набору орієнтаційних”, “орієнтаційно-фазових” і “фазових” Мюллер-матричних зображень та визначено додаткові критерії зміни масштабно-самоподівбної структури оптично-анізотропних напівпровіддникових і біологічних шарів. Автори роботи Бесага Роман Миколайович Герман Іванна Іванівна Горський Михайло Петрович Дуболазов Олександр Володимирович Кінзерська Оксана Володимирівна Кушнерик Людмила Ярославівна Мельник Володимир Васильович Мотрич Артем Володимирович Сідор Максим Іванович Сенко Ілля Михайлович Сльотов Михайло Михайлович Ушенко Юрій Олександрович Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити