Знайдено документів: 1
Керівник: Молодкін Вадим Борисович. Основи дифузнодинамічної дифрактометрії дефектів другого класу за Кривоглазом у об'єктах наноіндустрії. (Етап: ). Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України. № 0220U103199
Знайдено документів: 1
Оновлено: 2026-03-14
