Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 0220U103199, 0115U001416 , Науково-дослідна робота Назва роботи Основи дифузнодинамічної дифрактометрії дефектів другого класу за Кривоглазом у об'єктах наноіндустрії Назва етапу роботи Керівник роботи Молодкін Вадим Борисович, Дата реєстрації 03-09-2020 Організація виконавець Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України Опис етапу  Побудована самоузгоджена модель динамічної дифракції в кристалах з однорідно розподіленими дефектами першого та другого класів з урахуванням динамічного фактора Кривоглаза–Дебая–Валлера. Показаний суттєвий вплив динамічного фактора на картину розсіяння у випадку дефектів другого класу. Розглянуто асимптотичні випадки товстого та тонкого кристалів при дифракції за Лауе та за Бреггом. Створену модель динамічної дифракції у кристалах з дефектами другого класу узагальнено шляхом врахування повної багатократності розсіяння як на періодичній, так і на флуктуаційній частинах кристалічного потенціалу. Узагальнено модель динамічної дифракції в кристалах з дефектами другого класу та порушеним поверхневим шаром. Враховано інтерференційну взаємодію випромінень від основного об’єму кристалу і від порушеного поверхневого шару. Побудовано статистичну динамічну модель бреггівської дифракції в багатошарових системах з кристалічними і аморфним шарами та дефектами першого та другого класу. Детально розглянуто випадок двошарових систем, що складаються з двох аморфних, аморфного і кристалічного та двох кристалічних шарів. Створено статистичну динамічну диференціальну модель когерентного і дифузного розсіяння в багатошарових монокристалічних системах, що містять неоднорідний за глибиною розподіл дефектів першого та другого класів за Кривоглазом. Враховано повну багатократність перерозсіяння як когерентних так і дифузних хвиль між шарами. Побудовано модель динамічної дифракції в кристалах з дефектами другого класу та неоднорідно розподіленими макродеформаціями. Опис продукції Автори роботи Голентус Ілля Едуардович Дмітрієв Сергій Васильович Заболотний Іван Миколайович Когут Михайло Тихонович Лізунов Вячеслав Вячеславович Молодкін Вадим Борисович Скапа Людмила Миколаївна Фузік Катерина Вячеславівна Додано в НРАТ 2020-10-01 Закрити
НДДКР ОК
Керівник: Молодкін Вадим Борисович. Основи дифузнодинамічної дифрактометрії дефектів другого класу за Кривоглазом у об'єктах наноіндустрії. (Етап: ). Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України. № 0220U103199
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-03-14