Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0223U000233, 0122U001310 , Науково-дослідна робота Назва роботи Створення методик досліджень та вивчення мікроструктурних та електрофізичних властивостей керамік на основі SiC та TiO2 – перспективних матеріалів ЯЕУ, опромінених на лінійному прискорювачі іонів гелію Назва етапу роботи Керівник роботи Мануйленко Олег Вячеславович, Кандидат фізико-математичних наукПавлій Костянтин Всеволодович, Кандидат фізико-математичних наук Дата реєстрації 05-01-2023 Організація виконавець Національний науковий центр "Харківський фізико-технічний інститут" Національної академії наук України Опис етапу  Представлені результати визначення елементного складу наявних зразків керамічних матеріалів на основі SiC і TiO2 за допомогою рентгенофлюоресцентного спектрометра, а також, результати числового моделювання (код SRIM) для обчислення коефіцієнтів розпилення зразків керамік SiC и TiO2 при опроміненні пучком іонів гелію з енергією 0,12 МеВ. Показано, що у зразках керамік на основі SiC, сумарне розпилення атомів кремнію в 1,7 рази більше, ніж атомів вуглецю, а у зразках керамік на основі TiO2, сумарне розпилення атомів кисню в 3,5 рази більше, ніж атомів титану, при енергії іонів гелію 0,12 МеВ. За рахунок розпилення більшої кількості атомів кремнію, ніж вуглецю у SiC і більшої кількості розпилених атомів кисню, ніж титану в TiO2, після ди-соціації SiC і TiO2, повинна збільшуватися провідність, тобто зменшуватися «поверхневий» електроопір опромінюваного (лицьового) боку зразків. Опис продукції Автори роботи Зайцев Борис Васильович Мануйленко Олег Вячеславович Павлій Костянтин Всеволодович Сошенко Володимир Анатолійович Додано в НРАТ 2023-01-05 Закрити