1 documents found
Information × Registration Number 0225U004845, (0124U002155) , R & D reports Title Processes of scattering and characteristic X-ray radiation of relativistic charged particles in oriented crystals popup.stage_title Дослідження залежності інтенсивності ХРВ при падінні пучка на кристал від його орієнтації відносно пучка та від знаку заряду частинок. Дослідження впливу процесу деканалювання частинок у кристалі на інтенсивність їх ХРВ. Отримання диференціального перерізу розсіювання швидких заряджених частинок на періодичних кристалічних площинах атомів з точністю до квадратичних доданків нульового ейконального наближення. Розрахунок залежності довжини деканалювання від параметрів пучка та температури кристала у моделі бінарних зіткнень. Head Trofymenko Serhii V., Доктор фізико-математичних наук Registration Date 20-12-2025 Organization National Science Center "Kharkiv Institute of Physics and Technology" popup.description1 The aim of the work is to study orientational effects in motion, scattering and characteristic X-ray radiation of high-energy particles in crystals and to develop a new method for determining the crystal orientation with respect to the incident particle beam and a new method for studying the process of particle dechanneling in a crystal based on characteristic radiation registration. popup.description2 Based on computer simulation, the ionization of atomic K shells and characteristic X-ray radiation (CXR) of high-energy electrons and positrons in an oriented silicon crystal have been studied. The dependences of the angular distribution of CXR from the upstream surface of the crystal on its orientation relative to the direction of particle motion and on the particle energy were obtained. A new method for measuring the electron dechanneling length in a crystal by registering CXR was proposed. Based on the binary collision model, the dependence of the electron dechanneling length in a silicon crystal with the planar orientation (110) relative to the direction of particle motion on the particle energy and crystal temperature was obtained. Deviations from the linear dependence of this length on energy were demonstrated. It was shown that this length is almost independent of temperature over a wide temperature range. The differential cross section of scattering of fast charged particles on a set of parallel atomic planes in the eikonal approximation is obtained with an accuracy of quadratic terms in the potential in the phase of the particle wave function in this approximation. Product Description popup.authors Igor V. Kyryllin Viktoriia D. Omelchenko Maksym S. Malovytsia popup.nrat_date 2025-12-20 Close
R & D report
Head: Trofymenko Serhii V.. Processes of scattering and characteristic X-ray radiation of relativistic charged particles in oriented crystals. (popup.stage: Дослідження залежності інтенсивності ХРВ при падінні пучка на кристал від його орієнтації відносно пучка та від знаку заряду частинок. Дослідження впливу процесу деканалювання частинок у кристалі на інтенсивність їх ХРВ. Отримання диференціального перерізу розсіювання швидких заряджених частинок на періодичних кристалічних площинах атомів з точністю до квадратичних доданків нульового ейконального наближення. Розрахунок залежності довжини деканалювання від параметрів пучка та температури кристала у моделі бінарних зіткнень.). National Science Center "Kharkiv Institute of Physics and Technology". № 0225U004845
1 documents found

Updated: 2026-03-20