Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 0225U004845, (0124U002155) , Науково-дослідна робота Назва роботи Процеси розсіювання та характеристичного рентгенівського випромінювання релятивістських заряджених частинок в орієнтованих кристалах Назва етапу роботи Дослідження залежності інтенсивності ХРВ при падінні пучка на кристал від його орієнтації відносно пучка та від знаку заряду частинок. Дослідження впливу процесу деканалювання частинок у кристалі на інтенсивність їх ХРВ. Отримання диференціального перерізу розсіювання швидких заряджених частинок на періодичних кристалічних площинах атомів з точністю до квадратичних доданків нульового ейконального наближення. Розрахунок залежності довжини деканалювання від параметрів пучка та температури кристала у моделі бінарних зіткнень. Керівник роботи Трофименко Сергій Валерійович, Доктор фізико-математичних наук Дата реєстрації 20-12-2025 Організація виконавець Національний науковий центр "Харківський фізико-технічний інститут" Національної академії наук України Опис роботи Метою роботи є дослідження орієнтаційних ефектів у русі, розсіюванні та характеристичному рентгенівському випромінюванні частинок високих енергій у кристалах та розробка нового методу визначення орієнтації кристала відносно пучка налітаючих частинок і нового методу дослідження процесу деканалювання частинок у кристалі на основі реєстрації їх характеристичного випромінювання. Опис етапу На основі комп’ютерного моделювання досліджено іонізацію атомних K оболонок та характеристичне рентгенівське випромінювання (ХРВ) електронів і позитронів високих енергій в орієнтованому кристалі кремнію. Отримано залежності кутового розподілу ХРВ з вхідної поверхні кристала від його орієнтації щодо напрямку руху частинок та від їх енергії. Запропоновано новий метод вимірювання довжини деканалювання електронів у кристалі шляхом реєстрації ХРВ. На основі моделі бінарних зіткнень отримано залежність довжини деканалювання електронів у кристалі кремнію при його площинній орієнтації (110) щодо напряму руху частинок від їх енергії та температури кристала. Продемонстровано відхилення від лінійної залежності цієї довжини від енергії. Показано, що ця довжина майже не залежить від температури в широкому температурному інтервалі. Отримано диференціальний переріз розсіювання швидких заряджених частинок на множині паралельних атомних площин в ейкональному наближенні з точністю до квадратичних за потенціалом доданків у фазі хвильової функції частинки в цьому наближенні. Опис продукції Автори роботи Кириллін Ігор Володимирович Омельченко Вікторія Дмитрівна Маловиця Максим Сергійович Додано в НРАТ 2025-12-20 Закрити
НДДКР ОК
Керівник: Трофименко Сергій Валерійович. Процеси розсіювання та характеристичного рентгенівського випромінювання релятивістських заряджених частинок в орієнтованих кристалах. (Етап: Дослідження залежності інтенсивності ХРВ при падінні пучка на кристал від його орієнтації відносно пучка та від знаку заряду частинок. Дослідження впливу процесу деканалювання частинок у кристалі на інтенсивність їх ХРВ. Отримання диференціального перерізу розсіювання швидких заряджених частинок на періодичних кристалічних площинах атомів з точністю до квадратичних доданків нульового ейконального наближення. Розрахунок залежності довжини деканалювання від параметрів пучка та температури кристала у моделі бінарних зіткнень.). Національний науковий центр "Харківський фізико-технічний інститут" Національної академії наук України. № 0225U004845
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-03-18