Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0301U000365, 0195U024481 , Науково-дослідна робота Назва роботи Розвиток методів неруйнівного контролю матеріалів електронної техніки на основі фотоакустичної мікроскопії Назва етапу роботи Дослідження можливостей фотоакустичної та фотоелектричної мікроскопії для неруйнівної діагностики напівпровідників та напівпровідникових структур Керівник роботи Кучеров Іван Якович, Дата реєстрації 21-02-2001 Організація виконавець Київський національний університет імені Тараса Шевченка Опис етапу Дослідженнями по фототермоакустичній (ФТА) мікроскопії з п'єзоелектричною реєстрацією модельних зразків з напівпровідникових матеріалів і біморфних п'єзоелектричних структур показано, що ФТА мікроскопія може використовуватись, як неруйнівний метод діагностики таких об'єктів. Теоретично і експериментально досліджено ФТА ефекту в п'єзоелектричному тонкому диску при його збудженні імпульсним лазерним випроміненням. Запропоновано ФТА метод вимірювання енергії імпульсного лазерного випромінювання Опис продукції Автори роботи Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити