1 documents found
Head: Lokazyuk V.M.. Methodology of the test combined diagnosing of microprocessor devices and systems on the basis of components of artificial intelligence. (popup.stage: Розробка моделей МПП та С як об'єкту діагностування і процесу діагностування на базі компонентів штучного інтелекту (ШІ)). Texnological univesity of Podilla. № 0303U007316
1 documents found
Updated: 2026-03-18
