Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 0304U001456, 0102U000331 , Науково-дослідна робота Назва роботи Вплив неоднорідно-деформованої поверхні напівпровідника на властивості контакту поверхнево-бар'єрних структур Шотткі Назва етапу роботи Дослідження концентраційної залежності висоти бар'єру на контакті метал-напівпровідник (Cu-p-CdTe) Керівник роботи Пелещак Р.М., Дата реєстрації 25-02-2004 Організація виконавець Дрогобицький державний педагогічний університет імені Івана Франка Опис етапу Запропоновано модель опису перерозподілу точкових дефектів у електричному полі, створеному контактною різницею потенціалів метал (Cu) - напівпровідник (CdTe) з врахуванням деформаційних ефектів. Встановлено, що деформаційні ефекти підсилюють процес електродифузійного очищення приконтактної області напівпровідника від заряджених дефектів типу іонізованих міжвузлових донорів Cdi. Опис продукції Автори роботи Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити
НДДКР ОК
Керівник: Пелещак Р.М.. Вплив неоднорідно-деформованої поверхні напівпровідника на властивості контакту поверхнево-бар'єрних структур Шотткі. (Етап: Дослідження концентраційної залежності висоти бар'єру на контакті метал-напівпровідник (Cu-p-CdTe)). Дрогобицький державний педагогічний університет імені Івана Франка. № 0304U001456
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-03-20