Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0304U004854, 0104U007366 , Науково-дослідна робота Назва роботи Наноструктурні дослідження морфології поверхні вуглецьвмісних покриттів методом АСМ Назва етапу роботи Наноструктурні дослідження морфології поверхні вуглецьвмісних покриттів методом АСМ Керівник роботи Прокопенко Ігор Васильович, Дата реєстрації 04-11-2004 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України Опис етапу Проведено аналіз наноструктури приповерхневих шарів монокристалічних пласти Ge: SiC з нанесеними алмазоподібним та SiC, ВС покриттями. Результатом виконання робіт є комп'ютерні зображення типових елементів поверхонь та морфологічних особливостей і дефектів плівок на кристалічних підкладках, таблиці статистико-морфологічного аналізу окремих ділянок плівок. Опис продукції Автори роботи Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити