Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 0305U001824, 0104U006313 , Науково-дослідна робота Назва роботи Оцінка стійкості елементної бази приладів АИ019, АИ020, АИ222, АИ311, АИ511 до неіонізаційної дози протонів природних радіаційних поясів Землі (ПРПЗ) і сонячних космічних променів (СКП), заклацувань, ініційованих іонами сонячних космічних променів і галактичних космічних променів (ГКП). Назва етапу роботи Оцінка стійкості елементної бази приладів АИ019, АИ020, АИ222, АИ311, АИ511 до заклацувань, ініційованих іонами СКП та ГКП. Керівник роботи Горбенко Володимир Миколайович, Дата реєстрації 27-04-2005 Організація виконавець Науково-виробниче підприємство "Хартрон-Сіпма Лтд." Опис етапу Об'єкт дослідження - елементна база приладів АИ019, АИ020, АИ222, АИ311, АИ511. Ціль роботи - оцінка стійкості елементної бази приладів до заклацювань, ініційованих іонами сонячних космічних променів і галактичних космічних променів. Практичні результати - визначені значення інтенсивності заклацювань елементів і функціонально закінчених вузлів приладів під впливом іонів космічного простору. Розраховані значення інтенсивності заклацювань елементної бази можуть бути використані при проведенні оцінки відповідності приладів у складі космічного апарата вимогам по стійкості до заклацювань під впливом іонів сонячних космічних променів і галактичних космічних променів. Опис продукції Автори роботи Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити
НДДКР ОК
Оцінка стійкості елементної бази приладів АИ019, АИ020, АИ222, АИ311, АИ511 до неіонізаційної дози протонів природних радіаційних поясів Землі (ПРПЗ) і сонячних космічних променів (СКП), заклацувань, ініційованих іонами сонячних космічних променів і галактичних космічних променів (ГКП).
Керівник: Горбенко Володимир Миколайович. Оцінка стійкості елементної бази приладів АИ019, АИ020, АИ222, АИ311, АИ511 до неіонізаційної дози протонів природних радіаційних поясів Землі (ПРПЗ) і сонячних космічних променів (СКП), заклацувань, ініційованих іонами сонячних космічних променів і галактичних космічних променів (ГКП).. (Етап: Оцінка стійкості елементної бази приладів АИ019, АИ020, АИ222, АИ311, АИ511 до заклацувань, ініційованих іонами СКП та ГКП.). Науково-виробниче підприємство "Хартрон-Сіпма Лтд.". № 0305U001824
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-03-20


Роздрукувати цю сторінку