Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 0313U005127, 0108U004840 , Науково-дослідна робота Назва роботи Розроблення і створення метрологічного комплексу для діагностики компонентної бази наноелектроніки методами скануючої зондової мікроскопії Назва етапу роботи Розроблення і створення комплексу нанозондових методів діагностики локальних механічних параметрів наноматеріалів та структур на їх основі. Керівник роботи Прокопенко Ігор Васильович, Дата реєстрації 30-04-2013 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України Опис етапу Розроблено системний теоретичний і експериментальний підхід до аналізу механічних і геометричних параметрів нанокапілярних містків рідини між твердотільним нанозондом та поверхнею на основі аналізу динамічних кривих навантаження. Запропоновано новий спосіб діагностики локальних енергетичних параметрів реальної поверхні з використанням зондів з різними властивостями, при просторово узгоджених вимірюваннях як на повітрі, так і в рідині, із застосуванням даних топометрії та наноіндентування. Опис продукції Розроблено методику прямого вимірювання товщини нанометрових шарів (в тому числі органічних у рідких буферних середовищах) засобами атомно-силової склерометрії та мікроскопії. Автори роботи Литвин О.С. Литвин П.М. Прокопенко І.В. Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити
НДДКР ОК
Розроблення і створення метрологічного комплексу для діагностики компонентної бази наноелектроніки методами скануючої зондової мікроскопії
Керівник: Прокопенко Ігор Васильович. Розроблення і створення метрологічного комплексу для діагностики компонентної бази наноелектроніки методами скануючої зондової мікроскопії. (Етап: Розроблення і створення комплексу нанозондових методів діагностики локальних механічних параметрів наноматеріалів та структур на їх основі.). Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України. № 0313U005127
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-03-15


Роздрукувати цю сторінку