Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 0403U002005, Кандидатська дисертація На здобуття к.ф.-м.н. Дата захисту 28-05-2003 Статус Запланована Назва роботи Дослідження структури кристалів з великою густиною планарних дефектів методом повнопрофільного аналізу дифрактограм Здобувач Бударіна Наталія Миколаївна, Керівник Устінов Анатолій Іванович Опонент Куліш Микола Полікарпович Опонент Білоцький Олексій Васильович Опис Встановлено взаємозв'язок між дифракційними ефектами і типом та густиною планарних дефектів. Доведено, що методи діагностики дефектної структури, розвинені в рамках припущення низької концентрації планарних дефектів, потребують суттєвого корегування. Завдяки розвиненому в роботі методу повнопрофільного аналізу дифрактограм встановлена кореляція між параметрами мікроструктури порошків міді і характеристиками механо-активаційного процесу їх отримання. Дата реєстрації 2003-05-28 Додано в НРАТ 2020-04-04 Закрити
Дисертація кандидатська
Дослідження структури кристалів з великою густиною планарних дефектів методом повнопрофільного аналізу дифрактограм
1
Бударіна Наталія Миколаївна. Дослідження структури кристалів з великою густиною планарних дефектів методом повнопрофільного аналізу дифрактограм : к.ф.-м.н. : спец.. 01.04.13 - Фізика металів : дата захисту 2003-05-28; Статус: Захищена; Інститут металофізики ім. Г. В. Курдюмова НАН України. – , 0403U002005.
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-03-15


Роздрукувати цю сторінку