Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0405U001504, Кандидатська дисертація На здобуття к.ф.-м.н. Дата захисту 29-03-2005 Статус Запланована Назва роботи Деформаційні залежності повних інтегральних інтенсивностей у дифрактометрії мікродефектів монокристалів Здобувач Рудницька Ірина Іванівна, Керівник Низкова Ганна Іванівна Опонент Новиков Микола Миколайович Опонент Прокопенко Ігор Васильович Опис Запропоновано нову модель деформаційної залежності, зокрема, залежності від пружного вигину (ПВ), повної інтегральної відбивної здатності (ПІВЗ) монокристалів з випадково розподіленими дефектами (ВРД). Ця модель враховує як ефекти екстинкції за рахунок розсіяння на ВРД у когерентній складовій ПІВЗ, яка залежить від ПВ, так і вперше встановлену феноменологічно в роботі залежність від ПВ дифузної складової ПІВЗ та обумовлених розсіянням на дефектах інтегральних факторів екстинкції бреггівської та дифузної складових ПІВЗ. Це вперше дозволило дати адекватний кількісний опис спостережених експериментально ефектів спільного впливу ВРД та ПВ на ПІВЗ. Зокрема, пояснено спостережені аномальні ефекти можливих в залежності від величини ефектів екстинкції як адитивного (для малих величин), так і неадитивного (для великих) впливів ВРД та ПВ на ПІВЗ. В результаті створено унікальний метод кількісної діагностики характеристик ВРД в тому числі і нанорозмірних на основі вивчення деформаційних залежностей ПІВЗ. Дата реєстрації 2005-03-29 Додано в НРАТ 2020-04-04 Закрити