Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0405U004997, Кандидатська дисертація На здобуття к.ф.-м.н. Дата захисту 28-10-2005 Статус Запланована Назва роботи Багатохвильова Х-променева дифрактометрія реальних кристалів Здобувач Крицун Ігор Іванович, Керівник Фодчук Ігор Михайлович Опонент Молодкін Вдим Борисович Опонент Максимяк Петро Петрович Опис Розвинено експериментальні і теоретичні методи визначення періодів граток та їх змін при впливі деформації і температури, встановлено механізми та закономірності формування профілів інтенсивності, розроблено нові алгоритми та програмне забезпечення, а також спеціальні пристрої, що значно підвищують експресність і роздільну здатність багатохвильової дифрактометрії. Дата реєстрації 2005-10-28 Додано в НРАТ 2020-04-04 Закрити