Search academic texts

Information × Registration Number 0406U004998, Candidate dissertation Status к.ф.-м.н. Date 01-12-2006 popup.evolution o Title X-ray diffractometry of epitaxial structures CdхHg1-хTe and Si single crystal after ion implantation. Author Zaplitniy Ruslan Anatoliyovich, popup.head Fodchuk Igor Michaylovich popup.opponent Кладько Василь Петрович popup.opponent Савчук Андрій Йосипович Description Проведено комплексні Х-променеві дослідження механізмів структурних змін у приповерхневих шарах іонно-імплантованих As кристалів CdTe, епітаксійних структур CdхHg1-хTe зі складною дефектною структурою (дислокаційні петлі, малокутові границі, антиструктурні дефекти) після одно- та двократної імплантації іонами арсену. Досліджено вплив комбінованої дії іонної імплантації фосфором і хімічного травлення на структурні властивості монокристалів кремнію. Registration Date 2006-12-01 popup.nrat_date 2020-04-04 Close