Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0408U002443, Кандидатська дисертація На здобуття к.т.н. Дата захисту 14-05-2008 Статус Запланована Назва роботи Структурно-функціональний аналіз тестопридатності при проектуванні цифрових систем на кристалах Здобувач Гузь Олеся Олексіївна, Керівник Хаханов Володимир Іванович Опонент Хажмурадов Манап Ахмадович Опонент Леонов Сергій Юрійович Опис Мета дисертаційного дослідження – розробка моделей та методів структурно-функціонального аналізу тестопридатності проектованих цифрових систем на кристалах , що дозволяють суттєво зменшити час верифікації та обсяг діагностичної інформації при одночасному покращенні якості тестів і глибини діагностування дефектів. Основні результати: новий структурно-функціональний метод аналізу тестопридатності цифрових систем на кристалах (TADATPG), нова функціональна сильнозв'язна трикомпонентна TFY-модель тестування цифрових систем на кристалах, нова неітеративна модель діагностування цифрових систем на кристалах, удосконалена модель процесу вибору контрольних точок, удосконалений П-алгоритм синтезу кубічних покрить. Практична значущість отриманих результатів полягає у програмній реалізації моделей та методів аналізу тестопридатності, вибору критичних контрольних точок сканування складних цифрових систем на кристалах в цілях синтезу тестів, моделювання несправностей та діагностування дефектів; імплементації програмних засобів аналізу тестопридатності та наступної модифікації цифрових проектів в систему SIGETEST, валідному тестуванні методу, моделей та програмних засобів шляхом порівняння з існуючими світовими аналогами за допомогою тестових бібліотек провідних фірм, а також інтеграції в сучасні маршрути проектування SoC на основі стандартів граничного сканування IEEE (11.49, 1500) . Дата реєстрації 2008-05-14 Додано в НРАТ 2020-04-04 Закрити