Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0409U005070, Кандидатська дисертація На здобуття к.ф.-м.н. Дата захисту 06-11-2009 Статус Запланована Назва роботи Спектроскопічна діагностика формування напівпровідникових нанокристалів типу А2В6 у діелектричних матрицях Здобувач Гутич Юрій Іванович, Керівник Ажнюк Юрій Миколайович Опонент Рудько Галина Юріївна Опонент Рубіш Василь Михайлович Опис Методи оптичної спектроскопії застосовано для діагностики формування та оцінки параметрів нанокристалів типу А2В6 у діелектричних матрицях. Показано, що збільшення тривалості чи температури термообробки веде до зростання концентрації переважаючих атомів халькогену в потрійних нанокристалах CdS1-xSex. Синтезовано ряди четвірних напівпровідникових нанокристалів Cd1-yZnyS1-xSex та CdS1-x-ySexTey, з відповідно двомодовою та тримодовою поведінкою фононного спектру. Виявлено, що при виході за межі оптимального інтервалу параметрів термообробки альтернативою формуванню нанокристалів типу CdSe у боросилікатному склі є утворення кластерів селену Se2. Дата реєстрації 2009-11-06 Додано в НРАТ 2020-04-04 Закрити