Search academic texts

Information × Registration Number 0410U004924, Candidate dissertation Status к.ф.-м.н. Date 30-10-2010 popup.evolution o Title Х-ray diffractometry of defect structure changes in silicon crystals after irradia-tion by high energy electrons. Author Litvinchuk Taras Vasyljovych, popup.head Fodchuk Igor Myhajlovich popup.opponent Низкова Ганна Іванівна popup.opponent Ковалюк Захар Дмитрович Description Дисертація присвячена вибору механізмів структурних перетворень та моделі дефектної структури кристалів кремнію, які дозволили адекватно описати всю складність структурних змін у цих кристалах після опромінення високоенергетичними електронами на основі аналізу результатів досліджень методами дво - та трикристальної спектрометрії в режимі -2Q сканування а також комп'ютерного моделювання.Методами високороздільної Х-променевої дифрактометрії проведе-но кількісну характеризацію складних мікродефектних структур у крис-талах кремнію, вирощених за методом Чохральського і опромінених різ-ними дозами високоенергетичних електронів (Е 18 МеВ). Registration Date 2010-10-30 popup.nrat_date 2020-04-04 Close