Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0410U005257, Кандидатська дисертація На здобуття к.ф.-м.н. Дата захисту 15-06-2010 Статус Запланована Назва роботи Динамічні ефекти асиметрії залежностей інтегральної інтенсивності розсіяння у кристалах з дефектами від умов дифракції Здобувач Мельник Артём Васильевич, Керівник Лень Євген Георгійович Опонент Раранський Микола Дмитрович Опонент Куліш Микола Полікарпович Опис В дисертації побудовано динамічну модель фактору асиметрії повних інтегральних інтенсивностей (ПІІ) для відбиттів різних знаків у випадку Лауе-дифракції із врахуванням внеску дифузної складової ПІІ. На цій основі створено новий метод діагностики мікродефектів. Вперше експериментально встановлено асиметрію азимутальної залежності нормованої ПІІ монокристалу з дефектами у випадку дифракції за Бреггом, яка обумовлена динамічним ефектом впливу повного дифракційного відбиття на дифузне розсіяння. На основі встановлених та описаних з врахуванням дифузного розсіяння ефектів асиметрії вказаних залежностей ПІІ від умов динамічної дифракції створено комбіновані методи інтегральної рентгенодифракційної діагностики декількох типів дефектів, одночасно присутніх у кристалах, засновані на спільній обробці експериментальних даних, одержаних за різних умов динамічної дифракції. Дата реєстрації 2010-06-15 Додано в НРАТ 2020-04-04 Закрити