Мішакова Тетяна Олександрівна. Еліпсометрія напівпровідникових планарних нано-структур з урахуванням ефектів ближнього поля : к.ф.-м.н. : спец.. 01.04.07 - Фізика твердого тіла : дата захисту 2013-04-24; Статус: Захищена; Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України. – , 0413U003194.

Оновлено: 2026-11-03