Дисертація кандидатська
Мішакова Тетяна Олександрівна. Еліпсометрія напівпровідникових планарних нано-структур з урахуванням ефектів ближнього поля
: к.ф.-м.н. :
спец.. 01.04.07 - Фізика твердого тіла :
дата захисту 2013-04-24; Статус: Захищена;
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України. – ,
0413U003194.
Оновлено: 2026-11-03
