Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0414U004076, Кандидатська дисертація На здобуття к.ф.-м.н. Дата захисту 15-09-2014 Статус Запланована Назва роботи Температурні особливості електрофізичних властивостей Sn, металоксидних керамік YBaCuO, BiSrPbCaCuO та їх границь розділу з Au, Ag, In, Pb Здобувач Фролов Валерій Олексійович, Керівник Соколенко Володимир Іванович Опонент Мамалуй Андрій Олександрович Опонент Соловйов Андрій Львович Опис Об'єкт: процеси та механізми, що визначають перенесення заряду в керамічних YBaCuO, BiSrPbCaCuO, інтерфейсах YBaCuO(BiSrPbCaCuO)/Au(Ag,In,Pb) і Sn в різних структурних станах. Мета: встановлення взаємозв'язку температурних особливостей електрофізичних характеристик керамічних металооксидних сполучень YBaCuO, BiSrPbCaCuO, інтерфейсів YBaCuO/Ме, ВiSrPbCaCuO/Ме (Ме=Au,Ag,In,Pb) і Sn в монокристалічному і загартованому з перегрітого розплаву станах, зі структурними та електронними перетвореннями в інтервалі температур від гелієвих до ~ 470 К. Методи: вимірювання електроопору і термоЕРС, вимірювання швидкості повзучості в режимі сталої пластичної течії, відомі теоретичні уявлення відносно інтерфейсів "напівпровідник/нормальний метал". Результати: вперше показано, що температурна залежність електроопору rС інтерфейсів МОС/Ме, де МОС=YBaCuO(BiSrPbCaCuO), Ме=Au(Ag,In,Pb), має в інтервалі 4,2…300 К напівпровідниковий характер і містить аномалії, що корелюють з аномаліями структурних і електронних властивостей YBaCuO и BiSrPbCaCuO. Запропоновано феноменологічну модель інтерфейсу МОС/Ме, в рамках якої аномалії rС взаємопов'язані з аномаліями щільності nfh вільних носіїв заряду МОС. Галузь використання: електрофізика, фізика фазових перетворень Дата реєстрації 2014-09-15 Додано в НРАТ 2020-04-04 Закрити