Реєстраційний номер
0415U006180, Кандидатська дисертація
На здобуття
к.т.н.
Дата захисту
19-11-2015
Статус
Захищена
Назва роботи
Визначення топографічних характеристик поверхневого шару нових вуглецьвмісних функціональних матеріалів методом тунельної мікроскопії
Здобувач
Цисар Максим Олександрович,
Керівник Новіков Микола Васильович
Опонент Маслов Володимир Петрович
Опонент Котенко Ігор Евгенович
Установа, організація, у вченій раді якої відбудеться/відбувся захист
Інститут надтвердих матерiалiв iм. В.М. Бакуля НАН України
Опис
Дисертація присвячена вирішенню актуальної науково-технічної задачі визначення топографічних характеристик нових вуглецьвмісних функціональних матеріалів методом тунельної мікроскопії. Сучасні вуглецьвмісні матеріали інструментального та приладобудівного призначення є багатокомпонентні системи, властивості яких визначаються мозаїчною будовою та міжфазною взаємодією в зонах контакту різних фаз. В технології виробництва подібних матеріалів велика роль належить двом основним алотропним формам вуглецю, а саме: алмазу та графіту. Використання алмазного вістря з концентрацією некомпенсованого бору в (50…60)±1 ppm відкриває нові можливості в дослідженні таких матеріалів. Розроблений в цій роботі індуктивний метод на основі принципу електрохімічного потенціалу, дозволив визначити перехід між фазами (sp2/sp3 гібридизацій), що відображається на топограмі фіктивним стрибком висоти в 4 ?. Дослідження графенового покриття, сформованого на підкладці з оксиду кремнію, показало, що воно складається з набору хаотично розташованих в просторі "пелюсток" еліптичної форми товщиною 3±0,5 нм, малий радіус яких складає до 250 нм, а великий до 600 нм, а також містять різні вуглецеві утворення, такі як фулерени та нанотрубки. Згідно розробленої розрахунково-експериментальної методики оцінки розмірів зон твердого діелектрика в матриці з провідникового композиту, визначено, що включення АСУД99 представляють собою конгломерати, розміри яких варіюються в межах 30...50 нм. Дослідно-промислова перевірка засвідчила переваги використання тунельного мікроскопу оснащеного вістрям з монокристалу алмазу легованого бором.
Дата реєстрації
2015-12-01
Додано/оновлено в НРАТ
2020-04-04 / 2026-06-29
