Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0416U005192, Кандидатська дисертація На здобуття к.ф.-м.н. Дата захисту 07-09-2016 Статус Запланована Назва роботи Високороздільна Х-променева дифрактометрія GaN і градієнтних AlGaN плівок та нанодротів Здобувач Станчу Григорій Вікторович, Керівник Кладько Василь Петрович Опонент Репецький Станіслав Петрович Опонент Новіков Сергій Миколайович Опис На основі ВРХД досліджено структурно-деформаційний стан GaN і градієнтних AlGaN плівок та НД. Розроблена теоретична модель для опису деформаційного стану НД GaN. Дано пояснення впливу Si-N прошарку на азимутальну орієнтацію НД GaN відносно Si підкладки, яке полягає в наявності орієнтованих граней Si-N. На основі кінематичної теорії дифракції Х-променів представлено ефективний метод для розрахунку товщинних профілів деформації та компонентного складу для градієнтних AlGaN плівках та НД. Дата реєстрації 2016-09-07 Додано в НРАТ 2020-04-03 Закрити