Знайдено документів: 1
Олійник Остап Олегович. Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки
: к.т.н. :
спец.. 05.27.01 - Твердотільна електроніка :
дата захисту 2017-06-27; Статус: Захищена;
Національний технічний університет України "Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського". – , 0417U002583.
Знайдено документів: 1
Оновлено: 2026-03-18
