1 documents found
Information × Registration Number 0417U004621, Candidate dissertation Status к.ф.-м.н. Date 15-11-2017 popup.evolution o Title High resolution X-ray diagnostic of the influence of deformations on structure of nanosize systems Author Kryvyi Serhii Borisovich, popup.head Kladko Vasyl Peter popup.opponent Борча Маряна Драгошівна popup.opponent Порошин Володимир Миколайович Description В дисертації викладено результати дослідження структурно-деформаційного стану надграток AlGaN/GaN, шарів GeSn на Ge/Si (001) та нанопористих систем. Проведений аналіз механізмів релаксації вбудованих напружень в надгратках, які складаються з симетричних шарів GaN і AlN. Встановленi зв'язки пористостi наноструктур золота та їх плазмонних властивостей. Встановлено, що структурні, оптичні та електрофізичні власти-вості багатошарових структур та НГ визначаються процесами релаксації напружень. Registration Date 2017-11-15 popup.nrat_date 2020-04-03 Close
Candidate dissertation
1
Kryvyi Serhii Borisovich. High resolution X-ray diagnostic of the influence of deformations on structure of nanosize systems : к.ф.-м.н. : spec.. 01.04.07 - Фізика твердого тіла : presented. 2017-11-15; popup.evolution: .; Institute of Semiconductor Physics. – , 0417U004621.
1 documents found

Updated: 2026-03-20