Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0419U001689, Кандидатська дисертація На здобуття к.ф.-м.н. Дата захисту 13-11-2019 Статус Запланована Назва роботи Використання методу регуляризації для визначення характеристик субструктури кристалічних матеріалів за формою дифракційних кривих Здобувач Роженко Наталія Миколаївна, Керівник Картузов Валерій Васильович Опонент Семенько Михайло Петрович Опонент Устінов Анатолій Іванович Опис Дисертаційна робота присвячена розробці методики дослідження дефектного стану кристалічних матеріалів, що базується на цифровій обробці їхніх XRD-дифрактограм, рівнозначній заміні на обладнання з більш високою (порівнянною з кроком дифракції) роздільною здатністю. Ефект підвищення роздільної здатності досягається усуненням інструментального уширення методом регуляризації Тихонова і переходом від зафіксованих експериментальних дифракційних ліній до фізичних кривих розглядуваних об’єктів. Розроблена методика включає процедуру розділення ефектів дифракції на ОКР та кристалічній ґратці з мікродеформаціями, яка узагальнює методи моментів та Холла–Вільямсона, вільна від апріорних припущень щодо закону розподілу мікродеформацій, враховує форму враховує форму фізичних дифракційних ліній та характер функції розмиття на областях когерентного розсіяння і дозволяє визначати функцію щільності розподілу мікродеформацій. За допомогою представленої методики проведено дослідження дефектного стану порошків W, WC і Fe після розмелу різної тривалості, визначено такі характеристики тонкої структури, як середні значення мікродеформацій і розмірів ОКР, їхню залежність від тривалості розмелу, а також закони розподілу мікродеформацій у порошках W та WC. Дата реєстрації 2019-11-13 Додано в НРАТ 2020-04-03 Закрити