Пошук академічних текстів

Реєстраційний номер

0421U103410, Кандидатська дисертація

Назва роботи

Нові кількісні методи визначення структури матеріалів у електронній мікроскопії

Здобувач

Красікова Ірина Євгеніївна, Кандидат фізико-математичних наук

Керівник Картузов Валерій Васильович
Керівник Картузов Валерій Васильович
Опонент Прилуцький Юрій Іванович
Опонент Гордієнко Юрій Григорович
Опонент Прилуцький Юрій Іванович

На здобуття

Кандидат фізико-математичних наук, 01.04.07, Фізика твердого тіла

Дата захисту

15-09-2021

Опис

Дисертаційна робота присвячена розробці методики математично визна- ченої кількісної характеризації структури матеріала за його електронно- мікроскопічним зображенням. У роботі виконана адаптація математичної моделі мультифрактального формалізму для визначення кількісних характеристик зображень структури ма- теріалів, і на її основі розроблено відповідне програмне забезпечення, яке дає стійкі результати їх обчислень. Висока продуктивність розробленого програм- ного забезпечення допускає принципову можливість включення її до існуючих програмних пакетів обробки електронно-мікроскопічних зображень в режимі реального часу, в тому числі до програмного забезпечення, яке вбудовано в еле- ктронні мікроскопи. За допомогою представленої методики з метою верифікації моделей і роз- робленого програмного забезпечення проведено дослідження отриманих муль- тифрактальних і фізичних характеристик гарячепресованих композитів AlB12– AlN, яке дозволяє зробити важливий висновок про те, що з фізичними характе- ристиками можуть бути пов'язані не тільки мультифрактальнi характеристики зображень структури фаз, але і мультифрактальнi характеристики виділених на них систем границь (границь зерен, границь фаз — в залежності від досліджу- ваного матеріалу). Отримано результати розрахунків фрактальних характерис- тик плівок хрому, осаджених в аргоні при зміні температури осадження та в залежності від доданків кисню. Показана наявність кореляції фрактальної роз- мірності та фізичних характеристик плівок хрому — твердістю H та наведеним модулем пружності (1 2 ) r E = E − ν . Досить високий ступінь кореляції спостері- гається як при обчисленнях фрактальної розмірності площини фотографій, так і для систем виділених границь. Ключові слова: електронно-мікроскопічне зображення, структура ма- теріалу, межи зерен, кількісна характеризація, фрактальна розмірність, му- льтифрактальні характеристики.