Реєстраційний номер
0493U002418, Кандидатська дисертація
На здобуття
к.ф.-м.н.
Дата захисту
21-05-1993
Статус
Захищена
Назва роботи
Исследование дифракционных эффектов в деформирвоанных монокристаллах методами маятниковых полос и рентгеновской интерферометрии
Здобувач
Струк Ярослав Михайлович,
Керівник Раранский М.Д.
Опонент Молодкин В.Б.
Опонент Кшевецкий С.А.
Установа, організація, у вченій раді якої відбудеться/відбувся захист
Черновицкий государственный университет им. Юрия Федьковича
Опис
Объект исследования: Совершенные монокристаллы кремния и германия. Цель исследования: Изучение дифракционных эффектов, которые возникают при формировании изображений маятниковых полос в слабо и сильно деформированных монокристаллах при двухволновой дифракции рентгеновских лучей. Методы исследования и аппаратура: Рентгеновские интерферометрия, дифрактометрия и топография: ДРОН-3М и оригинальные приставки для экспериментальных исследований; числовое моделирование: ЕС-1045, IBM РС/АТ. Теоретические результаты и новизна: Впервые и интерферометрическом изображении кроме обычных муаровых полос выявлены деформационные полосы при действии сосредоточенной силы на анализатор интерферометра; Установлено, что при трехволновой дифракции в кристаллах с акустическим полем смещений наблюдается один или два рентгеноакустических эффекта в зависимости от ориентации вектора смещений. Практические результаты и новизна: Рентгеноинтерферометрическим методом определено планарное распределение деформаций, которые возникают при высокотемпературном оксилении кремния; устанволены типы дефектов, которые возникают в системе Si-SiО2 показано, что муаровые полоси перестают проявлятся в случаях, когда один из формирующих муаровое изображение пучков, имеет относительную интенсивн. Предмет и степень внедрения: Новые дифракционные эффекты, механизмы и закономерности разсеивания рентгеновских лучей в монокристаллах; поля деформаций и механизмы дефектосоздания в системе Si-SiO2. Внедрение планируется. Сфера (область) использования: Физика твердого тела; оптика рентгеновских лучей; технологические методы контроля совершенствования монокристаллов.
Дата реєстрації
2000-01-14
Додано/оновлено в НРАТ
2021-03-18 / 2026-06-30
