Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0493U002679, Кандидатська дисертація На здобуття к.х.н. Дата захисту 09-11-1993 Статус Запланована Назва роботи Приспособление рентгенофлуоресцентного анализа для контроля стехиометрии высокотемпературных сверхпроводников, которые содержат висмут Здобувач Спольник Зоя Михайловна, Керівник Бланк А.Б. Керівник Шевцов Н.И. Опонент Приседский В.В. Опонент Ройзенблат Е.М. Опис Объект исследования: Высокотемпературные системы прецизионного и экспертного контроля стехиометрии ВТНП материалов, которые содержат висмут. Цель исследования: Создание системы презизионного и экспертного контроля стехиометрии ВТНП материалов, которые содержат висмут. Методы исследования и аппаратура: Рентгенофлуооресцентныйанализ, электроннозондовая микроскопия, титриметрия, атомно спектроскопия, методы математической статистики. Теоретические результаты и новизна: Решение основных методических вопросов, которые обеспечивают прецизионный и экспертный рентгеноспектральный анализ 4-5и компонентных систем в частности, высокотемпературных сверхпроводников. Практические результаты и новизна: Новый способ получения излучателей для рентгенофлуоресцентного анализа оксидных материалов; презиционная и экспертная методики контроля стехиометрии сверхпроводников, которые содержат висмут. Предмет и степень внедрения: Методики контроля стехиометрии сверхпроводников, которые содержат висмут внедрены в практику отдела аналитической химии института монокристаллов АНУ, ИЗНХ РАН (г. Москва), ИНХ СВ РАН (г. Новосибирск). Эффективность внедрения: Использование разработаных методик до решения вопросов материаловедения высокотмпературных сверхпроводников. Сфера (область) использования: Аналитическая химия и материаловедение высокотемпературных сверхпроводников и других сложных оксидных жидкостей. Дата реєстрації 1993-04-04 Додано в НРАТ 2021-03-17 Закрити