Search academic texts

Information × Registration Number 0511U000061, Doctoral dissertation Status д.ф.-м.н. Date 27-11-2010 popup.evolution o Title Simulation of X-ray topographic defect images in real Si crystals Author Novikov Sergij Mykolayovych, popup.head Fodchuk Igor Mychajlovych popup.opponent Кладько Василь Петрович popup.opponent Кисловський Євген Миколайович popup.opponent Венгренович Роман Дмитрович Description Встановлено механізми і закономірності формування дифракційних зображень окремих дефектів у кремнію (мікродефекти, дислокації, дислокаційні петлі та бар'єри Ломера-Котрела) та їх комплексів на секційних і проекційних топограмах при дії зовнішніх чинників (ультразвукових деформацій, еквідистантного і експоненційного згину атомних площин та дії зосереджених сил). Встановлено специфічні ефекти каналювання і повного внутрішнього відбивання Х-хвиль у випадку сторчкового положення крайових дислокацій в палатці Бормана. Виявлено особливості формування товщинних осциляцій інтенсивності в сильно деформованих областях кристалу. Registration Date 2010-11-27 popup.nrat_date 2020-04-04 Close