Реєстраційний номер
0825U003518, Дисертація доктора філософії
На здобуття
Доктор філософії
Дата захисту
04-09-2025
Статус
Наказ про видачу диплома
Назва роботи
Методи та моделі дефектоскопії філамента виробів 3D друку
Здобувач
Гапон Наталія Ярославівна,
Керівник Хорошайло Юрій Евгеньевич
Опонент Хомяк Юрій Валентинович
Опонент Логвінов Юрій Федорович
Рецензент Одаренко Євген Миколайович
Рецензент Разумов-Фризюк Євгеній Анатолійович
Установа, організація, у вченій раді якої відбудеться/відбувся захист
Харківський національний університет радіоелектроніки
Опис
Гапон Н.Я. Методи та моделі дефектоскопії філамента виробів 3D друку. – Кваліфікаційна наукова праця на правах рукопису.
Дисертація на здобуття наукового ступеня доктора філософії за спеціальністю 171 Електроніка. – Харківський національний університет радіоелектроніки, Харків, 2025.
Зміст анотації. Дисертаційна робота присвячена удосконаленню методів та моделей дефектоскопії філамента виробів 3D друку за рахунок моделей дефектів на базі орієнтованих графів, використання методу теплових чотириполюсників для кількісного визначення параметрів дефектів.
Мета дослідження – удосконалення методів і моделей дефектоскопії філамента деталей 3D друку та підвищення споживчих характеристик філамента.
Практична значущість результатів досліджень
Автором дисертації розроблено методичний апарат та прикладні основи дефектоскопії філамента виробів 3D друку, принципи побудови апаратурної реалізації та методики визначення коефіцієнтів передачі та відбиття зразка філамента з дефектами для 3D принтера, також розроблено методику виконання вимірювань.
У ТОВ «АСАНАФЛЕКС» результати роботи використовуються в господоговірній темі «Розробка моделей і методів дефектоскопії філамента для 3D друку», тема 21-04, номер держреєстрації 0121U110173 (акт впровадження від 20.06.2021 р.).
На кафедрі ПЕЕА ХНУРЕ результати роботи впроваджені в навчальний процес, де використовуються під час читання лекцій, проведення практичних та лабораторних робіт.
Наукова новизна одержаних результатів полягає в тому, що:
– удосконалено метод Ніколсона-Роса-Вейра, який на відміну від класичного методу враховує дефекти філамента виробів адитивного виробництва, що дозволило підвисити точність і достовірність;
– удосконалено модель врахуванням дефекту у моделі у вигляді орієнтованого графа, в стилі класичного методу Ніколсона-Роса, що відрізняється тим, що раніше дефект не враховувався, а діелектрик вважався ідеалізованим без дефекту, але згідно з запропонованою моделлю дефект теж орієнтований граф поданий як ділянка графа і аналогічний моделі діелектрика в хвилеводі в зменшеному масштабі, завдяки редукції графа топологічним, алгебраїчним та матричним методами отримано аналітичні вирази, які пов'язують елементи матриці розсіювання з електрофізичними параметрами філамента ;
– набув подальшого розвитку метод теплових чотириполюсників, що, на відміну від відомого, забезпечує додаткове рівняння в системі рівнянь, що дозволяє вирівняти кількість невідомих і рівнянь і отримати однозначне визначення параметрів дефектів;
– удосконалено модель багатошарового філамента для визначення глибини залягання та товщини дефекту, що відрізняється використанням цільової функції нев’язок, прирівнювання похідної якої до нуля дозволяє визначити додаткове рівняння між шуканими змінними, що дає однозначно визначити співвідношення між глибиною залягання, розкриттям дефекту та визначити матеріал дефекту.
Дата реєстрації
2025-08-20
Додано/оновлено в НРАТ
2025-08-20 / 2026-07-01
