Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 2108U000712, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Стаття Назва роботи Rutherford backscattering and X-ray difraction analysis of Ag/ZnS/glass multilayer system Автор Дата публікації 01-01-2008 Постачальник інформації Сумський державний університет Першоджерело http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/30131 Видання Одеса «Астропринт» Опис В роботі проведене дослідження профілів розподілу елементів за товщиною, структурних властивостей та шорсткості поверхні плівок ZnS в багатошаровій системі Ag/ZnS/скло. Шари сульфіду цинку в системі були отримані методом вакуумної сублімації в замкнутому об’ємі при різних температурах конденсації. При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/30131 В работе проведено изучение профилей распределении элементов по толщине, структурных свойств и шероховатости поверхности для пленок ZnS в многослойной пленочной системе Ag/ZnS/стекло. Пленки сульфида цинка в системе были получены методом вакуумной сублимации в замкнутом объеме при разных температурах конденсации. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/30131 Experimental results on the study of the element depth profiles, structural and rough ness properties of Ag/ZnS/glass multilayer system are repoted. The ZnS films in this system were obtained by close-spaced vacuum sublimation method (CVCS) under different substrate temperature. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/30131 Додано в НРАТ 2025-05-12 Закрити