Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 2111U001221, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Thesis Назва роботи Investigation of the self-similar structure of the carbon thin films Автор Дата публікації 01-01-2011 Постачальник інформації Сумський державний університет Першоджерело http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/20616 Видання Видавництво СумДУ Опис Self-similar structure of the carbon thin films, obtained by magnetron sputtering is investigated numerically. Statistical parameters are calculated within two dimensional multifractal detrended fluctuation analysis. The numerical model for the surfaces under investigation was build from the SEM images of the carbon thin films. It is shown that the self-similarity in surface roughness preserves over all fragments of the sample, and through different resolutions of the SEM images. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/20616 Додано в НРАТ 2025-05-12 Закрити