Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 2113U001686, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Thesis Назва роботи The Comparative Investigations of Structural and Optical Properties of GaSb nanocrystals / Si layers Автор Дата публікації 01-01-2013 Постачальник інформації Сумський державний університет Першоджерело http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/35169 Видання Sumy State University Опис Optical and structural properties of GaSb nanocrystals fabricated by co-implantation of Ga and Sb ions in single crystalline Si (100), followed by thermal treatment are investigated. In the first group of samples named Si / GaSb the implantation of Ga ions was followed by Sb implantation, whereas in the second group of samples named Si / SbGa with increased by factor 1.4 ion fluence the order of implantation was inverted. The presence of nanocrystals in both kinds of samples was proved by TEM and RS experiments. Low-temperature PL measurements show a PL broad band in the region at 0.75-1.1 eV for Si / SbGa samples annealed at 900 °C. No PL was observed in the Si/SbGa samples after annealing at 1100 °C. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/35169 Додано в НРАТ 2025-05-12 Закрити