Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 2113U001692, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Thesis Назва роботи Metal Films as Mass Standard Samples in the Nano-Gram Range Автор Дата публікації 01-01-2013 Постачальник інформації Сумський державний університет Першоджерело http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/35167 Видання Sumy State University Опис Attestation of magnetron sputtered films as mass standards is presented. Homogeneous, long-lived metal films were measured by different methods for comparison. The accuracy of the order 1 ng was found to be provided by application of the metal film standards for element analysis by X-ray fluorescent method. Keywords: Thin Films, Nano-Standards, Magnetron Sputtering, X-ray Reflectometry, X-ray Fluorescent When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/35167 Додано в НРАТ 2025-05-12 Закрити