Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 2113U002111, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Стаття Назва роботи Raman analysis of Zn1-xMnxTe polycrystalline films Автор Дата публікації 01-01-2013 Постачальник інформації Сумський державний університет Першоджерело http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/33848 Видання SPIE Опис In this paper, we have investigated some structural properties, Raman spectra of Zn1-xMnxTe films deposited by the closed space vacuum sublimation under different growth conditions. The obtained results of the Raman spectroscopy and XRD analysis show single phase composition of the samples. The presence of phonon replicas in the Raman spectra of the films indicates their high structural quality. The manganese content (about 7 %) in the layers was determined according to shifting the relative peaks positions. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/33848 Додано в НРАТ 2025-05-12 Закрити