Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 2114U000687, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Стаття Назва роботи Small Angle X-ray Scattering in Thin Iron Films Автор Дата публікації 01-01-2014 Постачальник інформації Сумський державний університет Першоджерело http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/36258 Видання Sumy State University Опис By small angle X-ray scattering (SAXS) and atomic force microscopy characteristic sizes are deter-mined, structural features of thin iron films deposited by magnetron evaporation onto substrates from py-roceramics are established. It is shown that morphologically the film is characterized by disorder. It is formed from columnar nano crystallites that are oriented either perpendicular to the substrate or situated in its plane, which dictates polydispersity of those coatings. It is shown that SAXS may be thought of as nondestructive technique for analyzing structure and composition and conducting quality control of mag-netron films. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/36258 Додано в НРАТ 2025-03-24 Закрити