Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 2114U001768, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Thesis Назва роботи Визначення елементного складу та розподілу елементів по поверхні плівок Pb1-xSnxS методами PIXE та µ-PIXE Автор Дата публікації 01-01-2014 Постачальник інформації Сумський державний університет Першоджерело http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/38251 Видання Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України Опис Тонкі плівки твердого розчину Pb1-xSnxS можуть бути використані для створення приймачів інфрачервоного випромінювання, твердотільних лазерів та ін. Також ці плівки привертають до себе підвищену увагу дослідників як поглинаючі шари дешевих тонкоплівкових сонячних елементів, альтернативні таким традиційним матеріалам як CuInSe2, CuIn1–xGaxSe2, Cu2ZnSnS4(Se) та CdTe. У даній роботі вивчалися плівки Pb1-xSnxTe, отримані методом гарячої стінки у вакуумі на скляних підкладках при різнф температурі нанесення. Для визначення елементного складу конденсатів використовувалося рентгенівське характеристичне випромінювання індуковане протонним пучком (методи PIXE, µ-PIXE). Відповідні дослідження проводилися на мікроаналітичному прискорювальному комплексі «Сокіл» (ІПФ, Суми, Україна) з енергією пучка протонів 1,5 МеВ. Додано в НРАТ 2025-05-12 Закрити
Матеріали
Thesis
Визначення елементного складу та розподілу елементів по поверхні плівок Pb1-xSnxS методами PIXE та µ-PIXE
Визначення елементного складу та розподілу елементів по поверхні плівок Pb1-xSnxS методами PIXE та µ-PIXE : публікація 2014-01-01; Сумський державний університет, 2114U001768
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-03-14


Роздрукувати цю сторінку