Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 2114U005045, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Thesis Назва роботи Використання методу "напівтонких зрізів" для вивчення структури зразків, які використовуються в електронній мікроскопії Автор Дата публікації 01-01-2014 Постачальник інформації Сумський державний університет Першоджерело http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/35772 Видання Сумський державний університет Опис Вивчення структури напівтонких зрізів незамінний метод морфологічних досліджень. Для того, щоб електронномікроскопічне дослідження досягло своїх прямих цілей (вивчення ультраструктури) майже завжди необхідно проводити вивчення напівтонкого зріза виготовленого препарата. Це дозволяє більш точно та прицільно оцінити топографію досліджуваного об’єкта на тканинному та клітинному рівнях, розширити границі дослідження, використати кольорове фарбування та раціонально вибрати ділянку для виготовлення ультратонких зрізів. При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/35772 Додано в НРАТ 2025-05-12 Закрити