Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 2115U001665, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Стаття Назва роботи Structure and substructure properties of magnesium oxide thin films Автор Дата публікації 01-01-2015 Постачальник інформації Сумський державний університет Першоджерело http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/43177 Видання Proceedings of International Symposium on Semiconductor Materials and Devices Опис In this paper we have conducted a comprehensive study of the structural and substructural characteristics of magnesium oxide films by X-ray diffraction analysis. Thin films MgO were prepared by spray pyrolysis technique from a magnesium chloride solution. Identified the phase composition, the lattice constant, crystallite size and coherent scattering domain size, microstrain level of the films. The optimal conditions for the application of homogeneous single-phase films of stoichiometric composition were identified. Додано в НРАТ 2025-05-12 Закрити