Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 2115U001668, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Thesis Назва роботи Дослідження наноплівок As[2]S[3] на Si і SiO[2] методом ЕФС Автор Дата публікації 01-01-2015 Постачальник інформації Сумський державний університет Першоджерело http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/40981 Видання Сумський державний університет Опис Поверхня відіграє визначну роль при функціонуванні мікро- або нанооб’єктів, а також при їх взаємодії з підкладинками, на які вони напорошені та з навколишнім середовищем. Тому дослідження поверхонь перспективних наноструктур різними методами є вкрай важливим для сучасної фізики, техніки і технології. Для зондування досліджуваних поверхонь широко застосовуються в наукових дослідженнях пучки електронів. Додано в НРАТ 2025-05-12 Закрити
Матеріали
Thesis
Дослідження наноплівок As[2]S[3] на Si і SiO[2] методом ЕФС
Дослідження наноплівок As[2]S[3] на Si і SiO[2] методом ЕФС : публікація 2015-01-01; Сумський державний університет, 2115U001668
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-03-15


Роздрукувати цю сторінку