Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 2115U001783, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Thesis Назва роботи Ion Recrystallization and Spheroidization in Amorphous AlN-TiB2-TiSi2 as a Result of Annealing and Subsequent Implantation by Negative ion Au – Автор Дата публікації 01-01-2015 Постачальник інформації Сумський державний університет Першоджерело http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/42783 Видання Sumy State University Опис This paper presents new results on investigation of the influence of Au- negative ion beam implantation and thermal annealing under 900 °C and 1300 °C on structure and characteristics of AlN-TiB2-TiSi2 coatings prepared by magnetron sputtering. Using scanning electron microscope (SEM) with microanalysis (EDS), atomic force microscopy (AFM), X-Ray diffraction (XRD), high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM) investigated the crystal structure, surface topography, microstructure were characterized. Додано в НРАТ 2025-05-12 Закрити
Матеріали
Thesis
Ion Recrystallization and Spheroidization in Amorphous AlN-TiB2-TiSi2 as a Result of Annealing and Subsequent Implantation by Negative ion Au –
Ion Recrystallization and Spheroidization in Amorphous AlN-TiB2-TiSi2 as a Result of Annealing and Subsequent Implantation by Negative ion Au – : публікація 2015-01-01; Сумський державний університет, 2115U001783
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-03-15


Роздрукувати цю сторінку