Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 2116U000470, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Стаття Назва роботи Contrast of Electron Microscopy Images of Amorphous Objects Автор Дата публікації 01-01-2016 Постачальник інформації Сумський державний університет Першоджерело http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/44803 Видання Sumy State University Опис Запропоновано визначення контрасту електронномікроскопічних зображень як функції електронних потоків розсіяних в межах апертурної діафрагми різними локальними ділянками об’єкту. Обґрунтовано використання такого підходу для кількісного визначення величини амплітудного (абсорбційного) контрасту на зображеннях аморфних об’єктів з різними типами гетерогенності атомної та континуальної структури. Важливою особливістю визначеного контрасту є лінійна залежність від різниці електронних потоків, які формують зображення, та зручна область змін величини контрасту від 0 до 1 відносних одиниць. Предложено определение контраста электронномикроскопических изображений как функции электронных потоков, рассеянных в пределах апертурной диафрагмы разными локальными участками объекта. Обосновано использование такого подхода для количественного определения величины амплитудного (абсорбционного) контраста на изображениях аморфных объектов с разными типами гетерогенности атомной и континуальной структуры. Важной особенностью определенного контраста есть линейная зависимость от разности электронных потоков, которые формируют изображение, и удобный диапазон изменений контраста от 0 до 1 относительных единиц. It has been proposed to determine the contrast in electron microscopy image via the total electron fluxes scattered beyond the aperture diaphragm by local areas of the object under study to analyze quantitatively the amplitude (absorption) contrast of the amorphous objects with different types of heterogeneities of the atomic and continual structure. The significant properties of the determined contrast are its linear dependence on the difference of electron beam fluxes that form the image and a convenient range of variation from 0 to 1 relative units. Додано в НРАТ 2025-03-24 Закрити